一種芯片測試用抵壓裝置及其抵壓方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111490690.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113900016A 公開（公告）日 2022-01-07
申請公布號 CN113900016A 申請公布日 2022-01-07
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 熊愛娣 申請（專利權）人 深圳市湯誠科技有限公司
代理機構 深圳倚智知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 霍如肖
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道共樂社區(qū)共和工業(yè)路明月花都F棟1009
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試技術領域，尤其是一種芯片測試用抵壓裝置及其抵壓方法，包括測試臺，測試臺的頂部轉動連接有轉軸，轉軸的底端貫穿測試臺頂部并延伸至測試臺下方連接有間歇轉動機構，間歇轉動機構用于轉軸在固定的時間內轉動相同的角度；本技術方案使芯片在測試的過程中，只有在轉動到芯片測試探針頭下方待測試的間歇過程中進行抵壓固定，有效的減少了抵壓固定的時間，有利于防止芯片上的導電觸片由于長期固定而造成過渡磨損，降低了了芯片測試過程中由于固定時間長而被損壞的風險。