一種芯片測(cè)試用抵壓裝置及其抵壓方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111490690.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113900016B | 公開（公告）日 | 2022-02-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113900016B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-18 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 熊愛娣 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳市湯誠(chéng)科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳倚智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 霍如肖 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道共樂(lè)社區(qū)共和工業(yè)路明月花都F棟1009 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種芯片測(cè)試用抵壓裝置及其抵壓方法，包括測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)的頂部轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸的底端貫穿測(cè)試臺(tái)頂部并延伸至測(cè)試臺(tái)下方連接有間歇轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，間歇轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)用于轉(zhuǎn)軸在固定的時(shí)間內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)相同的角度；本技術(shù)方案使芯片在測(cè)試的過(guò)程中，只有在轉(zhuǎn)動(dòng)到芯片測(cè)試探針頭下方待測(cè)試的間歇過(guò)程中進(jìn)行抵壓固定，有效的減少了抵壓固定的時(shí)間，有利于防止芯片上的導(dǎo)電觸片由于長(zhǎng)期固定而造成過(guò)渡磨損，降低了了芯片測(cè)試過(guò)程中由于固定時(shí)間長(zhǎng)而被損壞的風(fēng)險(xiǎn)。 |
