反偏型硅發(fā)光SOI光電隔離器、其集成電路及制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910823544.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110491967A | 公開(公告)日 | 2019-11-22 |
申請公布號 | CN110491967A | 申請公布日 | 2019-11-22 |
分類號 | H01L31/173(2006.01); H01L31/18(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 黃磊; 孫宏亮; 徐開凱; 趙建明; 施寶球; 范洋; 洪繼霖; 錢津超; 李建全; 曾尚文; 李洪貞; 廖楠; 徐銀森; 黃平; 劉繼芝; 陳勇 | 申請(專利權(quán))人 | 廣東成利泰科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 石家莊科誠專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 電子科技大學(xué);重慶中科渝芯電子有限公司;廣東成利泰科技有限公司;四川芯合利誠科技有限公司;四川遂寧市利普芯微電子有限公司;四川晶輝半導(dǎo)體有限公司;成都智芯微科技有限公司;廣東氣派科技有限公司;上海朕芯微電子科技有限公司;四川藍彩電子科技有限公司;上海聯(lián)芯微電子科技有限公司 |
地址 | 611731 四川省成都市高新區(qū)(西區(qū))西源大道2006號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種反偏型硅發(fā)光SOI光電隔離器,包括作為襯底硅的第一襯底、作為SiO2中間層的第一介質(zhì)層和頂層硅,第一襯底與頂層硅通過智能剝離技術(shù)鍵合;反偏型硅發(fā)光SOI光電隔離器包括制作在第一襯底中的硅光探測器、第一介質(zhì)層以及制作在頂層硅中的硅光源。本發(fā)明還公開了上述光電隔離器的制作方法,并進一步公開了上述反偏型硅發(fā)光SOI光電隔離器的集成電路及其制作方法。本發(fā)明提供了硅光源與硅光探測器軸向排布,面積小、制造成本低,具有較高的光傳輸效率和集成度;本發(fā)明的光電隔離器可以與電路集成在同一個襯底上,硅光源與硅光探測器軸向堆疊,進一步降低了制造成本,具有較高的集成度,適用于光電隔離器的集成技術(shù)領(lǐng)域。 |
