產(chǎn)品標記位置偏移的測量方法、裝置、設備及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911254213.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110953989B 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN110953989B 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01B11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王帥;劉玉;陳建超 申請（專利權(quán)）人 青島歌爾微電子研究院有限公司
代理機構(gòu) 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務所 代理人 胡海國
地址 266104山東省青島市嶗山區(qū)松嶺路396號106室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種產(chǎn)品標記位置偏移的測量方法、裝置、設備及介質(zhì)，該方法包括：在檢測到測量產(chǎn)品標記位置偏移的測量指令時，獲取對應待測量圖紙矩陣；獲取所述產(chǎn)品的非標記面中與所述待測量圖紙矩陣對應的第一待測量標記區(qū)域并置于預設取象位置區(qū)域中，以通過預設第一相機對所述待測量標記區(qū)域進行第一取象，以得到第一坐標信息；通過預設第二相機對所述產(chǎn)品的標記面中與所述待測量圖紙矩陣對應的第二待測量標記區(qū)域進行第二取象，以得到第二坐標信息；根據(jù)所述待測量圖紙矩陣、所述第一坐標信息與所述第二坐標信息，得到所述產(chǎn)品第一標記位的偏移結(jié)果。本發(fā)明解決現(xiàn)有技術(shù)中對印刻的信息進行偏移測量時存在操作復雜，測量成本高的技術(shù)問題。