光路折返裝置（集原位取樣與測(cè)試的）
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202130019253.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN306577805S | 公開（公告）日 | 2021-06-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN306577805S | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-01 |
| 分類號(hào) | 10-05 （13） | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 蔣泰毅;蔡磊;劉飛;樂聰林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 武漢晟諾儀器科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王光建 |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)佛祖嶺三路28號(hào)高新二期（新廠一期）建設(shè)項(xiàng)目質(zhì)檢研發(fā)工藝和電子裝配樓101#建筑A區(qū)4樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：光路折返裝置（集原位取樣與測(cè)試的）。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用光路折返裝置（集原位取樣與測(cè)試的）。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：立體圖。 |
