太陽能選擇性涂層法向發(fā)射率測試系統(tǒng)及測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310636311.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103604829B | 公開(公告)日 | 2016-05-11 |
申請公布號 | CN103604829B | 申請公布日 | 2016-05-11 |
分類號 | G01N25/20(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 譚卓鵬;沈劍山;周福云;鄧金雁;賀冬枚 | 申請(專利權(quán))人 | 康達(dá)新能源設(shè)備股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 康達(dá)新能源設(shè)備股份有限公司 |
地址 | 523400 廣東省東莞市寮步鎮(zhèn)塘唇工業(yè)區(qū) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種太陽能選擇性涂層法向發(fā)射率測試系統(tǒng)及測試方法,測試系統(tǒng)包括:真空加熱機(jī)構(gòu)、黑體、溫控機(jī)構(gòu)、測量機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和計(jì)算機(jī)處理機(jī)構(gòu)。溫控機(jī)構(gòu)控制真空加熱機(jī)構(gòu)和黑體運(yùn)作,驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)測量機(jī)構(gòu)運(yùn)作,測量機(jī)構(gòu)分別對待測樣品和黑體的能量進(jìn)行探測,并將探測的能量轉(zhuǎn)換成電壓信號后傳送至計(jì)算機(jī)處理機(jī)構(gòu)。本發(fā)明測試系統(tǒng)簡單、成本低廉、性能穩(wěn)定、操作方便;測試方法簡單,技術(shù)可靠,測試效率高。 |
