一種檢測(cè)組件及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911188780.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112858144A 公開（公告）日 2021-05-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN112858144A 申請(qǐng)公布日 2021-05-28
分類號(hào) G01N15/10;G01N15/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 朱中華;王磊;李曉濤;李慶偉;鐘山;陳偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 摯感（蘇州）光子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 楊靜文
地址 215000 江蘇省蘇州市吳江區(qū)順風(fēng)路東側(cè)龍橋路西側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明所提供的一種探測(cè)組件和裝置，所述組件包括：光纖陣列塊和透鏡器件；所述光纖陣列塊，用于固化各光纖之間的最優(yōu)相對(duì)位置關(guān)系和各光纖最優(yōu)光學(xué)參數(shù)；所述光纖陣列塊與所述透鏡器件連接，從而提高光信號(hào)的質(zhì)量，同時(shí)，提高對(duì)空間中顆粒檢測(cè)的精準(zhǔn)度。