一種基于亞穩(wěn)態(tài)檢測(cè)的pipeline-SAR ADC數(shù)字級(jí)間增益校準(zhǔn)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110057929.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112910462A 公開（公告）日 2021-06-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN112910462A 申請(qǐng)公布日 2021-06-04
分類號(hào) H03M1/10 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 鄒勇賢 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 邁科微電子（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州幫專高智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 陸茵
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園北區(qū)清華信息港綜合樓4層403-4室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于亞穩(wěn)態(tài)檢測(cè)的pipeline?SAR ADC數(shù)字級(jí)間增益校準(zhǔn)方法，所述校準(zhǔn)方法包括：對(duì)模擬電路的逐級(jí)比較劃分為N級(jí)，對(duì)第2～N級(jí)中的比較器依次作亞穩(wěn)態(tài)檢測(cè)，并將每級(jí)亞穩(wěn)態(tài)指針輸出到數(shù)字電路中；當(dāng)數(shù)字校準(zhǔn)電路接收到的指針為1時(shí)，累加當(dāng)前數(shù)據(jù)，直到累加的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)達(dá)到上限時(shí)，則完成該級(jí)校準(zhǔn)，將數(shù)據(jù)累加的和求平均后作為該級(jí)與前一級(jí)間的級(jí)間增益；重復(fù)上述步驟，得到每一級(jí)的級(jí)間增益，對(duì)每一級(jí)的級(jí)間增益進(jìn)行處理得到數(shù)字校準(zhǔn)電路的校準(zhǔn)結(jié)果。本發(fā)明可以大大改善普通傳統(tǒng)型SAR?ADC因電容失配引入的誤差；同時(shí)面積也比校正型的pipelineADC的面積更小，極大地提高了比較精度。