微陣列芯片圖像分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110342359.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113160074A 公開（公告）日 2021-07-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN113160074A 申請(qǐng)公布日 2021-07-23
分類號(hào) G06T5/00;G06T5/30;G06T3/00;G06T7/11;G06T7/13 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 關(guān)萬(wàn)宇;李波 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州萬(wàn)孚倍特生物技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 周清華
地址 510700 廣東省廣州市黃埔區(qū)荔枝山路8號(hào)（3棟）3200室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及一種微陣列芯片圖像分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法通過(guò)對(duì)獲取的待分析微陣列芯片圖像進(jìn)行二值化處理，得到初始二值化圖像；提取初始二值化圖像中的墊片圖像區(qū)域，確定初始掩膜圖像；根據(jù)初始掩膜圖像去除待分析微陣列芯片圖像中的墊片圖像區(qū)域，并對(duì)去除墊片圖像區(qū)域后的待分析微陣列芯片圖像進(jìn)行濾波降噪處理，得到降噪圖像；根據(jù)降噪圖像，確定降噪圖像中目標(biāo)樣點(diǎn)的陰陽(yáng)性。本申請(qǐng)?zhí)峁┑奈㈥嚵行酒瑘D像分析方法能夠減少待分析微陣列圖像中存在的干擾和噪聲，從而能夠提高對(duì)待分析微陣列芯片圖像分析的準(zhǔn)確性，進(jìn)而能夠提高確定目標(biāo)樣點(diǎn)的陰陽(yáng)性的準(zhǔn)確性。