一種接收機芯片的測試方法和裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201610251279.X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN106027172B | 公開（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申請公布號 | CN106027172B | 申請公布日 | 2021-05-04 |
| 分類號 | H04B17/29;H04L1/20 | 分類 | 電通信技術; |
| 發(fā)明人 | 梅張雄;程晟 | 申請（專利權）人 | 北京聯(lián)盛德微電子有限責任公司 |
| 代理機構 | 北京中譽至誠知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） | 代理人 | 霍麗惠 |
| 地址 | 100044 北京市海淀區(qū)上園村3號交大知行大廈七層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種接收機芯片的測試方法和裝置，包括：標準芯片根據(jù)第一測試項向待測芯片發(fā)射測試速率下的信號；所述標準芯片接收所述待測芯片反饋的誤碼率BER，并且當所述BER高于預設閾值時，判斷為第一測試項測試通過。根據(jù)本發(fā)明提供的接收機芯片的測試方法和裝置，利用芯片發(fā)射和接收待測芯片的信號并進行解析，從而取代傳統(tǒng)校準和測試模式中的儀器，并通過固件實現(xiàn)校準和測試的自動化。 |
