一種接收機(jī)芯片的測(cè)試方法和裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610251279.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106027172B 公開（公告）日 2021-05-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN106027172B 申請(qǐng)公布日 2021-05-04
分類號(hào) H04B17/29;H04L1/20 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 梅張雄;程晟 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京聯(lián)盛德微電子有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中譽(yù)至誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 霍麗惠
地址 100044 北京市海淀區(qū)上園村3號(hào)交大知行大廈七層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種接收機(jī)芯片的測(cè)試方法和裝置，包括：標(biāo)準(zhǔn)芯片根據(jù)第一測(cè)試項(xiàng)向待測(cè)芯片發(fā)射測(cè)試速率下的信號(hào)；所述標(biāo)準(zhǔn)芯片接收所述待測(cè)芯片反饋的誤碼率BER，并且當(dāng)所述BER高于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，判斷為第一測(cè)試項(xiàng)測(cè)試通過。根據(jù)本發(fā)明提供的接收機(jī)芯片的測(cè)試方法和裝置，利用芯片發(fā)射和接收待測(cè)芯片的信號(hào)并進(jìn)行解析，從而取代傳統(tǒng)校準(zhǔn)和測(cè)試模式中的儀器，并通過固件實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)和測(cè)試的自動(dòng)化。