一種基于IEEE1149和IEEE1500標(biāo)準(zhǔn)的層次化SoC測(cè)試方案
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110649053.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113433448A | 公開（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113433448A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-24 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 梅張雄;程晟;邱芬 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京聯(lián)盛德微電子有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京中譽(yù)至誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 張平力 |
| 地址 | 100037北京市海淀區(qū)阜成路67號(hào)17層1802 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于IEEE1149和IEEE1500標(biāo)準(zhǔn)的層次化SoC測(cè)試方案，涉及SoC芯片測(cè)試領(lǐng)域；其中，IEEE1500標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議用于獨(dú)立的進(jìn)行SoC內(nèi)部單個(gè)嵌入式內(nèi)核測(cè)試，通過(guò)在嵌入式內(nèi)核與系統(tǒng)之間定義內(nèi)核測(cè)試接口來(lái)標(biāo)準(zhǔn)化IP內(nèi)核測(cè)試結(jié)構(gòu)，以便通過(guò)內(nèi)核訪問(wèn)機(jī)制促進(jìn)內(nèi)核的測(cè)試復(fù)用；同時(shí)有效完成內(nèi)核的測(cè)試和隔離，分區(qū)測(cè)試塊之間的切換，達(dá)到完整測(cè)試SoC的目的；本發(fā)明通過(guò)改進(jìn)IP內(nèi)核集成的外圍電路，實(shí)現(xiàn)層次化SoC中內(nèi)核外核并行同步測(cè)試，最終達(dá)到減少測(cè)試時(shí)間的目的；可以為大型SoC產(chǎn)品提供靈活和高效率的設(shè)計(jì)方案。 |
