利用X光檢測平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420866180.7 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN204346952U 公開（公告）日 2015-05-20
申請公布號(hào) CN204346952U 申請公布日 2015-05-20
分類號(hào) G01N23/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 樊暉 申請（專利權(quán)）人 東莞市松菱玻璃防爆技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 周詳
地址 523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)松科苑8號(hào)316號(hào)房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種利用X光檢測平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備；包括機(jī)臺(tái)，所述機(jī)臺(tái)上設(shè)置有輸送帶，所述機(jī)臺(tái)中部上方設(shè)置有X射線發(fā)射器，在所述X射線發(fā)射器的正下方設(shè)置有線性陣列探測器，所述線性陣列探測器固定安裝在所述輸送帶的下方；通過設(shè)置X射線發(fā)射器和線性陣列探測器，玻璃通過X射線發(fā)射器的下方時(shí)，線性陣列探測器上會(huì)接受到信號(hào)，若玻璃內(nèi)部有NiS等異物則線性陣列探測器接收到的信號(hào)強(qiáng)度會(huì)有變化，從而能快速、高效地檢測出含有NiS異物的玻璃。