金屬層作為源區(qū)的P型MOSFET結(jié)構(gòu)及其制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111091024.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113793873A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-12-14 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113793873A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-12-14 |
分類號(hào) | H01L29/786(2006.01)I;H01L29/47(2006.01)I;H01L29/417(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 代萌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江蘇格瑞寶電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張婧 |
地址 | 211800江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)雙峰路69號(hào)A-1104 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種金屬層作為源區(qū)的P型MOSFET結(jié)構(gòu)及其制備方法,包括自下而上依次設(shè)置的P型基片、P?型外延層、外延層表面注入N型雜質(zhì)形成的溝道區(qū)、與外延層表面形成肖特基接觸作為源區(qū)的金屬層以及介質(zhì)層,所述介質(zhì)層、金屬層、溝道區(qū)和P?型外延層內(nèi)設(shè)有填充有P型重?fù)诫s多晶硅的溝槽,該P(yáng)型重?fù)诫s多晶硅四周包覆有一層?xùn)叛?。本發(fā)明將肖特基金屬作為源區(qū)相比于現(xiàn)有技術(shù)中將多晶硅作為源區(qū),因金屬層鋪在整個(gè)外延層表面,可改善電流均勻性,提升散熱效率;還能避免多晶硅和硅表面形成的柵氧厚度不一可能導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)缺陷。 |
