一種高頻微波器件測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122414172.1 申請日 -
公開（公告）號 CN216117847U 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN216117847U 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王勇;肖松;李青 申請（專利權）人 貴陽順絡迅達電子有限公司
代理機構 貴陽中新專利商標事務所 代理人 胡緒東
地址 550014貴州省貴陽市白云區(qū)第二十六大道1656號順絡迅達工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種高頻微波器件測試裝置，包括PCB印制電路板、基座、SMA射頻連接頭和鈹青銅片，基座為U型結構，PCB印制電路板固定連接在基座中部凹槽內，SMA射頻連接頭采用多個，固定連接在基座兩端，每個SMA射頻連接頭的引線、接地層與PCB印制電路板的焊盤、接地層電連接，將鈹青銅片為弧形結構，一端焊接在PCB印制電路板的焊盤上保持懸空，鈹青銅片正對待測高頻微波器件的測試管腳。本實用新型通過測試裝置連接的測試儀，快速實現微波器件的性能參數測試，提高測試效率和測試精確性，實現微波器件的高頻測試，采用懸空彈性的鈹青銅片嵌入到微波器件的凹陷焊盤，能夠確保電連接的可靠性和穩(wěn)定性。