基于行為分析的學(xué)員評價方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111513646.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114331045A 公開（公告）日 2022-04-12
申請公布號 CN114331045A 申請公布日 2022-04-12
分類號 G06Q10/06（2012.01）I;G06Q50/20（2012.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 羅達(dá)雄;涂萌穎 申請（專利權(quán)）人 漢中礪芯半導(dǎo)體有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市恒程創(chuàng)新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王啟蒙
地址 723000陜西省漢中市漢臺區(qū)漢中高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)高速引道東側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于集成電路學(xué)員評價技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種基于行為分析的學(xué)員評價方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。該方法包括：獲取學(xué)員在預(yù)設(shè)時段內(nèi)的學(xué)習(xí)信息；從所述學(xué)習(xí)信息中獲取學(xué)員的學(xué)習(xí)行為信息；根據(jù)所述學(xué)習(xí)行為信息對所述學(xué)員進(jìn)行學(xué)習(xí)行為分析，獲得分析結(jié)果；根據(jù)所述分析結(jié)果和預(yù)設(shè)學(xué)習(xí)指標(biāo)權(quán)重生成所述學(xué)員的學(xué)習(xí)評價結(jié)果。本發(fā)明上述方式能夠根據(jù)學(xué)員的學(xué)習(xí)行為對學(xué)員進(jìn)行分析，更加全面的獲得學(xué)員的學(xué)習(xí)評價結(jié)果，可以及時淘汰部分不適合集成電路領(lǐng)域的學(xué)員，降低企業(yè)的培訓(xùn)成本。