通過方波測試光模塊發(fā)送系統(tǒng)阻抗的連續(xù)性的方法、系統(tǒng)及介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110335163.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113092867A 公開（公告）日 2021-07-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN113092867A 申請(qǐng)公布日 2021-07-09
分類號(hào) G01R27/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔡恒松;王琿;王炯明;陳鎮(zhèn);王宇軒;韓君 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海橙科微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊;郭國中
地址 200120上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)環(huán)湖西二路888號(hào)C樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種通過方波測試光模塊發(fā)送系統(tǒng)阻抗的連續(xù)性的方法、系統(tǒng)及介質(zhì)，包括：步驟1：選定測試方波的頻率；步驟2：用光示波器測試該方波的光眼；步驟3：基于反射原理，通過光眼計(jì)算鏈路的阻抗變化；步驟4：根據(jù)光眼計(jì)算阻抗突變點(diǎn)的位置，并結(jié)合鏈路的阻抗變化對(duì)鏈路進(jìn)行優(yōu)化。本發(fā)明可避免使用昂貴的測試設(shè)備，降低了測試成本；避免了重新做PCB等治具，提高了測試效率。