一種生長晶體材料時(shí)的溫度梯度控制裝置及其方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201210020279.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103160934B | 公開(公告)日 | 2016-05-18 |
申請公布號 | CN103160934B | 申請公布日 | 2016-05-18 |
分類號 | C30B35/00(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 劉朝軒 | 申請(專利權(quán))人 | 鑫融基投資擔(dān)保有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 471009 河南省洛陽市國家高新技術(shù)開發(fā)區(qū)金鑫路2號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種生長晶體材料時(shí)的溫度梯度控制裝置及其方法,涉及一種晶體材料的生長設(shè)備,在爐室(1)內(nèi)設(shè)有坩堝(5),坩堝的下部處于套筒(4)內(nèi),在套筒外部設(shè)有發(fā)熱體(3);冷卻介質(zhì)降溫機(jī)構(gòu)設(shè)置在套筒內(nèi)的下部;由冷卻介質(zhì)降溫機(jī)構(gòu)形成坩堝上部溫度高下部溫度底的溫度梯度控制;本發(fā)明通過將套筒套在坩堝的外部,發(fā)熱體首先加熱筒套,筒套再對坩堝加熱,由于本發(fā)明在坩堝底部與套筒底部的立軸高度較高,并且立軸在套筒的底部高度也較高,在通入惰性氣體后,所述立軸的散熱面積也明顯加大,使得坩堝底部與套筒內(nèi)的底部之間形成低溫區(qū),獲取了較佳的溫度梯度;由于筒套的作用,還可確保坩堝極少出現(xiàn)非均勻晶核。 |
