全自動(dòng)硅環(huán)平面度光感檢測(cè)方法、裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110865995.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113305030B 公開(kāi)（公告）日 2021-11-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN113305030B 申請(qǐng)公布日 2021-11-09
分類(lèi)號(hào) B07C5/10（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I 分類(lèi) 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 韓穎超;周波;馬瀟;李長(zhǎng)蘇 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 杭州盾源聚芯半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州信與義專(zhuān)利代理有限公司 代理人 胡鐵鋒
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路668號(hào)C幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種全自動(dòng)硅環(huán)平面度光感檢測(cè)方法、裝置，其中方法包括：分揀設(shè)備將硅環(huán)分揀給設(shè)置于傳送帶上的夾持部件，傳送帶將硅環(huán)傳送到平面度檢測(cè)區(qū)域并停止傳送；設(shè)于傳送帶每側(cè)的圖像采集及紅外測(cè)距設(shè)備分別采集一側(cè)硅環(huán)面的環(huán)面圖像并發(fā)送給處理器；處理器在環(huán)面圖像上劃分出若干個(gè)測(cè)距區(qū)域，并在每個(gè)測(cè)距區(qū)域中確定若干個(gè)紅外測(cè)距點(diǎn)，并生成含有紅外測(cè)距定位信息的測(cè)距信號(hào)；圖像采集及紅外測(cè)距設(shè)備根據(jù)測(cè)距信號(hào)對(duì)紅外測(cè)距區(qū)域和測(cè)距點(diǎn)進(jìn)行定位后開(kāi)始紅外測(cè)距，并將測(cè)距數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器；處理器計(jì)算硅環(huán)的平面度等級(jí)并生成分級(jí)信號(hào)，分揀設(shè)備根據(jù)分揀信號(hào)將硅環(huán)分揀到指定回收設(shè)備上。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)硅環(huán)平面度的流水化、全自動(dòng)檢測(cè)。