全自動硅環(huán)平面度光感檢測方法、裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110865995.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113305030B 公開（公告）日 2021-11-09
申請公布號 CN113305030B 申請公布日 2021-11-09
分類號 B07C5/10（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 韓穎超;周波;馬瀟;李長蘇 申請（專利權(quán)）人 杭州盾源聚芯半導體科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州信與義專利代理有限公司 代理人 胡鐵鋒
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路668號C幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全自動硅環(huán)平面度光感檢測方法、裝置，其中方法包括：分揀設(shè)備將硅環(huán)分揀給設(shè)置于傳送帶上的夾持部件，傳送帶將硅環(huán)傳送到平面度檢測區(qū)域并停止傳送；設(shè)于傳送帶每側(cè)的圖像采集及紅外測距設(shè)備分別采集一側(cè)硅環(huán)面的環(huán)面圖像并發(fā)送給處理器；處理器在環(huán)面圖像上劃分出若干個測距區(qū)域，并在每個測距區(qū)域中確定若干個紅外測距點，并生成含有紅外測距定位信息的測距信號；圖像采集及紅外測距設(shè)備根據(jù)測距信號對紅外測距區(qū)域和測距點進行定位后開始紅外測距，并將測距數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器；處理器計算硅環(huán)的平面度等級并生成分級信號，分揀設(shè)備根據(jù)分揀信號將硅環(huán)分揀到指定回收設(shè)備上。本發(fā)明實現(xiàn)了對硅環(huán)平面度的流水化、全自動檢測。