溫度測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201922082215.3 申請日 -
公開(公告)號(hào) CN211553125U 公開(公告)日 2020-09-22
申請公布號(hào) CN211553125U 申請公布日 2020-09-22
分類號(hào) G01K7/22(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 李金寶;劉興;王森 申請(專利權(quán))人 深圳市亞派光電器件有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 深圳市亞派光電器件有限公司
地址 518101廣東省深圳市寶安區(qū)留仙二路中糧商務(wù)公園2棟1503
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開一種溫度測試裝置,其中,溫度測試裝置用于光模塊的溫度測試,溫度測試裝置包括載物板、調(diào)溫組件、測溫件以及控制器,載物板設(shè)有測試位,測試位用以安放光模塊;調(diào)溫組件包括半導(dǎo)體制冷片、散冷散熱機(jī)構(gòu)和第一導(dǎo)熱件,半導(dǎo)體制冷片具有相對的第一面和第二面,第一面朝向測試位,散冷散熱機(jī)構(gòu)設(shè)于第二面,第一導(dǎo)熱件設(shè)于第一面,且第一導(dǎo)熱件用以與光模塊熱傳導(dǎo)連接;測溫件設(shè)于第一導(dǎo)熱件,測溫件用以檢測第一導(dǎo)熱件的溫度;控制器與半導(dǎo)體制冷片和測溫件均電連接,控制器用以根據(jù)測溫件的檢測結(jié)果控制半導(dǎo)體制冷片的工作狀態(tài);本實(shí)用新型技術(shù)方案旨在在短時(shí)間內(nèi)完成光模塊需要檢測的溫度的變換,以縮短光模塊的測試時(shí)間。??