現(xiàn)場可編程門陣列電路及測試裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201921243374.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211296725U | 公開（公告）日 | 2020-08-18 |
| 申請公布號 | CN211296725U | 申請公布日 | 2020-08-18 |
| 分類號 | H04B10/079(2013.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 楊強;莊禮杰 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳市亞派光電器件有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | 深圳市亞派光電器件有限公司 |
| 地址 | 518101廣東省深圳市寶安區(qū)留仙二路中糧商務(wù)公園2棟1503 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種現(xiàn)場可編程門陣列電路及測試裝置，現(xiàn)場可編程門陣列電路包括現(xiàn)場可編程門陣列芯片，現(xiàn)場可編程門陣列芯片包括第一輸入端口組、第二輸入端口組、第三輸入端口組、第四輸入端口組、第一輸出端口組、第二輸出端口組、第三輸出端口組和第四輸出端口組，第一輸出端口組、第二輸出端口組、第三輸出端口組和第四輸出端口組分別包括四個輸出端口?，F(xiàn)場可編程門陣列芯片，具有第一測試模式和第二測試模式，根據(jù)待測信號類型的不同，切換對應(yīng)模式。以使得現(xiàn)場可編程門陣列電路適用于產(chǎn)線的批量性測試需求，替代突發(fā)誤碼儀功能。從而解決突發(fā)誤碼儀不適用于產(chǎn)線的批量性測試需求。?? |
