基于CPCI總線的雙負反饋環(huán)路四象限V/I源測量單元板卡

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010586403.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111722040B 公開（公告）日 2021-04-23
申請公布號 CN111722040B 申請公布日 2021-04-23
分類號 G01R1/28(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 韓兵兵;邊遠;魯林;張陽;張興春;趙蕓卿;單光興 申請（專利權）人 航天新長征大道科技有限公司
代理機構 北京北匯律師事務所 代理人 李英杰
地址 116023遼寧省大連市甘井子區(qū)信達街31號航天大廈1602室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于CPCI總線的雙負反饋環(huán)路四象限伏安源測量單元板卡，包括CPCI總線模塊、FPGA模塊、ADC模塊、DAC模塊、繼電器控制模塊、電源模塊、雙負反饋環(huán)路模塊，CPCI總線模塊為板卡系統(tǒng)總線，連接上位機和FPGA模塊，用于上位機進行控制與數(shù)據(jù)交換，F(xiàn)PGA模塊包含CPCI總線橋片IP核、ADC模塊控制IP核、DAC模塊控制IP核，繼電器控制模塊用于切換雙負反饋環(huán)路的加壓測流和加流測壓電路功能，雙負反饋環(huán)路模塊包含電壓源與電流測量負反饋環(huán)路、電流源與電壓測量負反饋環(huán)路。本發(fā)明技術方案提供的板卡可以工作在四個象限、具有滿足二端口測試需求的V/I源、并且源能夠浮動，達到工業(yè)自動化測試要求。??