反光物體表面的三維測量系統(tǒng)及其測量方法和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111300606.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114001668A 公開（公告）日 2022-02-01
申請公布號 CN114001668A 申請公布日 2022-02-01
分類號 G01B11/24（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳偉鋒;王國安;王明毅;陳曉銘;彭粵龍 申請（專利權(quán)）人 海伯森技術(shù)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郭燕;彭家恩
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)航城大道華豐國際機(jī)器人產(chǎn)業(yè)園E棟一層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種反光物體表面的三維測量系統(tǒng)及其測量方法和存儲介質(zhì)。通過獲取第一相機(jī)拍攝的待測物體的第一圖像和第二相機(jī)拍攝的待測物體的第二圖像，第一圖像和第二圖像中包含待測物體表面反射的條紋圖像；根據(jù)第一圖像和第二圖像，得到第一物點的高度值和梯度值，第一物點為第一相機(jī)和第二相機(jī)的視野范圍的重疊區(qū)域中的物點；確定第二物點的第一高度值的初始值為第一物點的高度值，第二物點在第一物點的相鄰區(qū)域中，第二物點在第一相機(jī)和第二相機(jī)的視野范圍的非重疊區(qū)域；基于第二物點的第一高度值的初始值和預(yù)設(shè)步長進(jìn)行迭代處理，確定第二物點的梯度值；根據(jù)所有物點的梯度值，對待測物體的表面進(jìn)行重建，得到待測物體的形貌數(shù)據(jù)。從而擴(kuò)大了測量范圍。