一種條紋反射三維測量方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111482419.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114166150A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114166150A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01B11/25 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳偉鋒;王國安;韓世超;王明毅;王前程 申請（專利權(quán)）人 海伯森技術(shù)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郭燕;彭家恩
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)航城大道華豐國際機(jī)器人產(chǎn)業(yè)園E棟一層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種條紋反射三維測量方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)，根據(jù)格雷碼編碼得到多幅橫向和縱向的二值條紋顯示圖像；分別獲取多幅二值條紋反射圖像；分別提取多幅橫向和縱向的二值條紋反射圖像的第二邊緣線；分別根據(jù)多幅橫向和縱向的二值條紋反射圖像進(jìn)行格雷碼解碼，獲得第二邊緣線的序號；獲取待測點的圖像坐標(biāo)以及第二格雷碼坐標(biāo)，獲取對應(yīng)第二格雷碼坐標(biāo)的顯示屏坐標(biāo)；根據(jù)顯示屏坐標(biāo)以及圖像坐標(biāo)，獲取待測點的梯度數(shù)據(jù)；重建第一表面的三維形貌數(shù)據(jù)?？梢娛褂枚禇l紋對顯示圖像坐標(biāo)進(jìn)行編碼，原理上就免疫了連續(xù)相位調(diào)制的相機(jī)和顯示器Gamma效應(yīng)引起的誤差，二值條紋的狀態(tài)只有0和1沒有中間態(tài)，提高了抗噪能力，實現(xiàn)三維重建質(zhì)量的提高。