一種測量軸孔規(guī)格的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010767207.7 申請日 -
公開（公告）號 CN111879247B 公開（公告）日 2022-05-20
申請公布號 CN111879247B 申請公布日 2022-05-20
分類號 G01B11/08（2006.01）I;G01B11/12（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周飛;王國安;吳偉鋒;羅偉峰 申請（專利權(quán)）人 海伯森技術(shù)（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 518100廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)航城大道華豐國際機器人產(chǎn)業(yè)園E棟一層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明所提供的一種測量軸孔規(guī)格的裝置，其中，包括：多個相互連接且相互平行的光譜共焦傳感器探頭；多個反光鏡，多個所述反光鏡分別設(shè)于每個光譜共焦傳感器探頭的底端，所述反光鏡的鏡面與所述光譜共焦傳感器探頭的軸向呈預(yù)設(shè)角度，所述預(yù)設(shè)角度為所述鏡面與所有反光鏡圍成的中軸之間的夾角。本發(fā)明所述裝置基于光譜共焦原理即可實現(xiàn)對不同規(guī)格軸孔的內(nèi)徑或外徑的測量，且測量精度高，操作簡便。