定位芯片運(yùn)行錯(cuò)誤的方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910677822.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110377472B 公開（公告）日 2021-05-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN110377472B 申請(qǐng)公布日 2021-05-18
分類號(hào) G06F11/22;G06N3/063 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張韻東;余洋;徐祥 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京中星微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 401120 重慶市北碚區(qū)云漢大道117號(hào)附338號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種定位芯片運(yùn)行錯(cuò)誤的方法及裝置，其中，定位芯片運(yùn)行錯(cuò)誤的方法包括：在開發(fā)板生成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；通過(guò)開發(fā)板上的芯片運(yùn)行的第一程序加載神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，得到第一測(cè)試模型，在第一程序運(yùn)行第一測(cè)試模型對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)測(cè)時(shí)，生成第一運(yùn)行日志，通過(guò)利用開發(fā)板的環(huán)境運(yùn)行的第二程序加載神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，得到第二測(cè)試模型，并且在第二程序運(yùn)行第二測(cè)試模型對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)測(cè)時(shí)，生成第二運(yùn)行日志；以及根據(jù)第一運(yùn)行日志和第二運(yùn)行日志，定位芯片運(yùn)行的第一測(cè)試模型的錯(cuò)誤，能夠高效率、高精度、自動(dòng)化的定位芯片運(yùn)行錯(cuò)誤的原因，大大減小開發(fā)周期。