存儲(chǔ)器故障檢測(cè)系統(tǒng)及方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201410849720.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN104572385B | 公開(公告)日 | 2021-04-09 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN104572385B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-09 |
分類號(hào) | G06F11/26(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 馮穎俏;楊輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京中星微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 章社杲;盧軍峰 |
地址 | 519031廣東省珠海市橫琴新區(qū)寶華路6號(hào)105室-23898(集中辦公區(qū)) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)器故障檢測(cè)系統(tǒng),應(yīng)用于對(duì)雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DDR進(jìn)行檢測(cè),該系統(tǒng)包括:印刷線路板PCB、檢測(cè)插座Socket、開發(fā)測(cè)試板、檢測(cè)模塊,其中,PCB連接在開發(fā)測(cè)試板上,檢測(cè)插座連接在PCB上,DDR設(shè)置在檢測(cè)插座上,檢測(cè)模塊與開發(fā)測(cè)試板相連;檢測(cè)模塊用于對(duì)DDR進(jìn)行檢測(cè)。本發(fā)明通過采用檢測(cè)插座可以將DDR焊接在該插座上,對(duì)DDR進(jìn)行檢測(cè),從而可以不采用傳統(tǒng)的直接焊接在檢測(cè)板上的方式,能夠打破cpu和DDR均采用BGA封裝的限制,并且本發(fā)明通過檢測(cè)插座可以提高檢測(cè)硬件的利用率多次使用,大大降低了在對(duì)DDR進(jìn)行檢測(cè)時(shí)候的成本。?? |
