一種IC時序驗證方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110583310.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113311314A 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN113311314A 申請公布日 2021-08-27
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何賢賺;付超;周楊凡;王海寧;李婷;劉曉露 申請（專利權(quán)）人 杭州萬高科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 侯珊
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)六和路368號一幢（北）四樓A4038室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種IC時序驗證方法及裝置，用戶可以根據(jù)待測IC的不同類型及用戶需求向處理裝置發(fā)送不同的波形生成指令，使處理裝置生成與波形生成指令對應(yīng)的測試時序波形，然后判斷待測IC基于測試時序波形生成的待測時序波形與期望時序波形是否相同，以判斷待測IC是否滿足用戶的設(shè)計需求。由于處理裝置生成測試時序波形時不受電路結(jié)構(gòu)的限制，可以生成任意類型的測試時序波形，以滿足不同的檢驗需求，在研發(fā)設(shè)計師研發(fā)出新的待測IC時，可以直接生成與待測IC對應(yīng)的測試時序波形以對待測IC進行測試，不需要開發(fā)一個配套的與待測IC對應(yīng)的檢測裝置，提高了對待測IC進行驗證的效率。