一種基于閉環(huán)方式的雙激光共軛聚焦基因芯片掃描儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN03141942.9 申請日 -
公開（公告）號 CN1580745A 公開（公告）日 2005-02-16
申請公布號 CN1580745A 申請公布日 2005-02-16
分類號 G01N21/64 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馮哲民;邵暉;王鐵銘 申請（專利權）人 上海愛普特儀器有限公司
代理機構 上海專利商標事務所 代理人 李湘
地址 200437上海市曲陽路789號茶恬園大樓102－110室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種雙激光共軛聚焦基因芯片掃描儀，包含激光光源、分色濾光片、檢測受激熒光信號的熒光信號檢測單元和承載基因芯片的平臺，其中，分色濾光片將來自激光光源的大部分激光束反射至基因芯片，并且使受激熒光信號透射后射向熒光信號檢測單元，其進一步包含：激光強度檢測單元，其位于分色濾光片之后以測量透射過分色濾光片的激光束強度；以及熒光信號強度修正單元，其與激光強度檢測單元和熒光信號檢測單元相連，用于根據(jù)激光強度檢測單元測得的激光束強度變化值來修正熒光信號強度。與現(xiàn)有技術的雙激光共軛聚焦基因芯片掃描儀相比，本發(fā)明的基因芯片掃描儀引入光學閉環(huán)系統(tǒng)來修正測得的熒光信號強度，因此具有出色的穩(wěn)定性和可靠性。