射頻晶體管的射頻參數(shù)測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921611970.X 申請日 -
公開(公告)號 CN211718333U 公開(公告)日 2020-10-20
申請公布號 CN211718333U 申請公布日 2020-10-20
分類號 G01R1/04(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 王茂興 申請(專利權(quán))人 東莞市碩信電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京匯眾通達知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 東莞市碩信電子科技有限公司
地址 523000廣東省東莞市長安鎮(zhèn)新安社區(qū)新崗路元崗街6號1樓A區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及功率晶體管技術(shù)領(lǐng)域,且公開了射頻晶體管的射頻參數(shù)測試裝置,包括保護箱外殼和射頻檢測儀外殼,所述保護箱外殼內(nèi)腔的底壁固定安裝有數(shù)量為兩個的限位板,兩個所述限位板之間滑動連接有滑動板,所述滑動板與保護箱外殼之間固定連接有第一彈簧,所述射頻檢測儀外殼的前表面固定安裝有顯示器,所述射頻檢測儀外殼的前表面活動安裝有控制鈕,所述射頻檢測儀外殼的前表面開設(shè)有連接插槽。該射頻晶體管的射頻參數(shù)測試裝置,通過設(shè)置保護箱外殼,當(dāng)使用者在使用該裝置時,首先將射頻檢測儀外殼放置在放置板的頂部然后下壓射頻檢測儀外殼,從而使該裝置具備便于存放的保護箱,方便了使用者使用。??