基于點(diǎn)云與深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210271151.5 申請日 -
公開（公告）號 CN114627021A 公開（公告）日 2022-06-14
申請公布號 CN114627021A 申請公布日 2022-06-14
分類號 G06T5/00（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 浦石 申請（專利權(quán)）人 南通拓維思智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 -
地址 226000江蘇省南通市崇州大道60號紫瑯科技城11B號樓8層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及電力技術(shù)領(lǐng)域，提供一種基于點(diǎn)云與深度學(xué)習(xí)的電力設(shè)備缺陷檢測方法及系統(tǒng)。該方法包括：獲取絕緣子圖像信息和激光三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)；利用所述圖像信息通過深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)判斷絕緣子類型；根據(jù)確定的絕緣子類型調(diào)用對應(yīng)類型的三維絕緣子點(diǎn)云缺陷檢測模型；將所述絕緣子激光三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)輸入所述缺陷檢測模型，確定絕緣子缺陷類型；上述方法克服了僅僅使用圖像檢測或激光點(diǎn)云模型進(jìn)行缺陷檢測不準(zhǔn)確的問題，提高了檢測的精確度和檢測速度。