一種基于無監(jiān)督學(xué)習(xí)的MicroLED缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210048096.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114511516A 公開（公告）日 2022-05-17
申請公布號 CN114511516A 申請公布日 2022-05-17
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06T5/30（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 周佳;潘彤;郭震撼;曹暉;袁廷翼;王楊楊;夏天;鮑濤 申請（專利權(quán)）人 利晶微電子技術(shù)（江蘇）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 214000江蘇省無錫市梁溪區(qū)金山北工業(yè)園金山四支路9-2、9-3
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于無監(jiān)督學(xué)習(xí)的MicroLED缺陷檢測方法，涉及缺陷檢測領(lǐng)域，該方法利用完成圖像預(yù)處理的正常樣本圖像和異常樣本圖像對殘差卷積自編碼器模型進(jìn)行模型預(yù)訓(xùn)練，所述殘差卷積自編碼器模型包括基于殘差卷積模塊構(gòu)成的編碼器和基于殘差轉(zhuǎn)置卷積模塊構(gòu)成的譯碼器，將預(yù)訓(xùn)練的殘差卷積自編碼器模型的編碼器的輸出映射到潛在空間并擬合到超球面，利用目標(biāo)函數(shù)對潛在空間進(jìn)行優(yōu)化，訓(xùn)練得到缺陷檢測模型，可以得到魯棒性更強的缺陷檢測模型，以實現(xiàn)對MicroLED芯片的自動化缺陷檢測，該方法不需要標(biāo)記數(shù)據(jù)，對類不平衡問題具有魯棒性。