測試工裝
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120667007.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215297620U | 公開(公告)日 | 2021-12-24 |
申請公布號 | CN215297620U | 申請公布日 | 2021-12-24 |
分類號 | G01R31/44(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 周必清 | 申請(專利權(quán))人 | 利晶微電子技術(shù)(江蘇)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 譚玲玲 |
地址 | 214000江蘇省無錫市梁溪區(qū)金山北工業(yè)園金山四支路9-2,9-3 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供了一種測試工裝,其包括底架、第一卡擋件、第二卡擋件和控制板,第一卡擋件設(shè)置在底架上;第二卡擋件設(shè)置在底架上并與第一卡擋件相對設(shè)置,以圍成容納空間;容納空間包括至少一個用于容納待測試的顯示屏的檢測區(qū)域,檢測區(qū)域處設(shè)置有控制板,控制板用于與相應(yīng)的顯示屏電連接,以對顯示屏進(jìn)行點(diǎn)亮測試。通過增設(shè)第一卡擋件和第二卡擋件來對容納空間內(nèi)的顯示屏進(jìn)行卡擋,以提高顯示屏的點(diǎn)亮測試的便利性,解決了現(xiàn)有技術(shù)中的LED屏的點(diǎn)亮測試的便利性較差的問題。 |
