芯片測(cè)試方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011390228.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112506724B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112506724B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-01 |
| 分類號(hào) | G06F11/22（2006.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張冉;王健;歐綱;孔曉琳;鄧海軍;何萌;李安平 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳米飛泰克科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 趙倩 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道清風(fēng)大道28號(hào)安博科技廠區(qū)1號(hào)廠房1、5、6層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)適用于半導(dǎo)體集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種芯片測(cè)試方法，包括：識(shí)別待測(cè)芯片的類型；根據(jù)待測(cè)芯片的類型，確定用于測(cè)試待測(cè)芯片的測(cè)試程序；根據(jù)測(cè)試程序，測(cè)試待測(cè)芯片。通過(guò)本申請(qǐng)?zhí)峁┑男酒瑴y(cè)試方法，測(cè)試儀可以根據(jù)待測(cè)芯片上的二維碼標(biāo)識(shí)或者條形碼標(biāo)識(shí)，識(shí)別每一個(gè)待測(cè)芯片的類型，并且根據(jù)待測(cè)芯片的具體類型，下載并調(diào)用對(duì)應(yīng)類型芯片的測(cè)試程序，對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試，取代了傳統(tǒng)測(cè)試儀進(jìn)行多類型芯片測(cè)試時(shí)，需要人力輸入不同類型芯片的測(cè)試程序的方式，簡(jiǎn)化了測(cè)試芯片流程，提高了測(cè)試芯片的效率。 |
