芯片測試方法、裝置及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011390228.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112506724B 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN112506724B 申請公布日 2022-03-01
分類號 G06F11/22（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張冉;王健;歐綱;孔曉琳;鄧海軍;何萌;李安平 申請（專利權(quán)）人 深圳米飛泰克科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙倩
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道清風(fēng)大道28號安博科技廠區(qū)1號廠房1、5、6層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于半導(dǎo)體集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種芯片測試方法，包括：識別待測芯片的類型；根據(jù)待測芯片的類型，確定用于測試待測芯片的測試程序；根據(jù)測試程序，測試待測芯片。通過本申請?zhí)峁┑男酒瑴y試方法，測試儀可以根據(jù)待測芯片上的二維碼標(biāo)識或者條形碼標(biāo)識，識別每一個待測芯片的類型，并且根據(jù)待測芯片的具體類型，下載并調(diào)用對應(yīng)類型芯片的測試程序，對待測芯片進(jìn)行測試，取代了傳統(tǒng)測試儀進(jìn)行多類型芯片測試時，需要人力輸入不同類型芯片的測試程序的方式，簡化了測試芯片流程，提高了測試芯片的效率。