監(jiān)控系統(tǒng)、監(jiān)控方法、監(jiān)控終端及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010703276.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111983412B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-12-31 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111983412B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-12-31 |
分類號(hào) | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/067(2006.01)I;G08B13/196(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 王英廣;游彩鋒;賴永達(dá);鄭漢欽;韋敏榮;龔榮;劉活;李安平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳米飛泰克科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳卓宏 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道清風(fēng)大道28號(hào)安博科技廠區(qū)1號(hào)廠房1、5、6層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N監(jiān)控系統(tǒng)、監(jiān)控方法、監(jiān)控終端及存儲(chǔ)介質(zhì),涉及監(jiān)控技術(shù)領(lǐng)域,能夠較好地進(jìn)行晶圓測(cè)試數(shù)據(jù)的監(jiān)控,適用范圍廣。該監(jiān)控系統(tǒng)包括:測(cè)試終端、監(jiān)控終端和探針臺(tái),其中,所述監(jiān)控終端分別與所述測(cè)試終端和所述探針臺(tái)連接;所述測(cè)試終端,用于輸出目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試指令;所述目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)為所述測(cè)試終端控制所述探針臺(tái)的測(cè)試晶圓時(shí)得到的測(cè)試數(shù)據(jù);所述測(cè)試指令用于指示所述探針臺(tái)對(duì)晶圓進(jìn)行電測(cè)試;所述監(jiān)控終端,用于當(dāng)所述目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí),停止將所述測(cè)試終端的所述測(cè)試指令發(fā)送至所述探針臺(tái)。 |
