一種芯片測試方法、裝置、終端設備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110533296.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113406473B 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN113406473B 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 付友良;王健;鄧海軍;何萌;歐綱;王英廣;孔曉琳;李闖;李安平 申請（專利權）人 深圳米飛泰克科技股份有限公司
代理機構 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 劉永康
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道清風大道28號安博科技廠區(qū)1號廠房1、5、6層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于集成電路測試領域，提供了一種芯片測試方法、裝置、終端設備及存儲介質(zhì)。本申請實施例中獲取控制指令，根據(jù)上述控制指令以第一預設溫度和第二預設溫度分別獲取芯片的第一最大基準電壓和第一最小基準電壓；根據(jù)上述第一最大基準電壓和上述第一最小基準電壓計算上述芯片的溫度校準值，其中，上述溫度校準值用于對上述芯片基準電壓的溫度特性進行校準；將上述溫度校準值寫入上述芯片的存儲器中，對上述芯片進行測試，從而提高芯片的測試結果的準確性。