確定探針卡異常的方法、裝置、終端設備及存儲介質
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110526012.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113393422B | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
申請公布號 | CN113393422B | 申請公布日 | 2022-03-22 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張露露;歐綱;付友良;李旺軍;鄧海軍;王健;孔曉琳;李安平 | 申請(專利權)人 | 深圳米飛泰克科技股份有限公司 |
代理機構 | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 龍歡 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道清風大道28號安博科技廠區(qū)1號廠房1、5、6層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請實施例適用于晶圓測試技術領域,提供一種確定探針卡異常的方法、裝置、終端設備及計算機可讀存儲介質。該方法包括:獲取單片晶圓的晶圓圖;將至少兩片晶圓的所述晶圓圖進行疊加,生成疊加晶圓圖,所述至少兩片晶圓屬于同一批次;若所述疊加晶圓圖具備預設圖像特征,則確定所述探針卡存在異常。本申請實施例通過將探針卡測試多個晶圓產(chǎn)生的多張晶圓圖疊加,生成疊加晶圓圖;疊加晶圓圖可以體現(xiàn)這些晶圓在測試中出現(xiàn)的相同問題,因此可以根據(jù)疊加晶圓圖的圖像特征確定屬于探針卡的異常,這樣不需要對探針卡重做差異評估也能及時發(fā)現(xiàn)探針卡的異常,也避免了因晶圓測試良率正常導致探針卡存在的問題被忽略。 |
