RFID芯片阻抗及靈敏度的測試方法、裝置及電子設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210034777.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114047385A 公開（公告）日 2022-02-15
申請公布號 CN114047385A 申請公布日 2022-02-15
分類號 G01R27/02（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I;G06K17/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李建強(qiáng);趙軍偉;王文赫;杜鵑;林杰;劉俊杰;皮建 申請（專利權(quán)）人 北京智芯半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 趙靜
地址 102200北京市昌平區(qū)南邵鎮(zhèn)南中路電網(wǎng)產(chǎn)業(yè)大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種RFID芯片阻抗及靈敏度的測試方法、裝置及電子設(shè)備，其中方法包括：獲取至少三個公版標(biāo)簽天線中每個公版標(biāo)簽天線的天線阻抗值和天線增益；依次獲取多個芯片中每個芯片與至少三個公版標(biāo)簽天線相連后形成的至少三個標(biāo)簽中每個標(biāo)簽的標(biāo)簽靈敏度，其中，多個芯片包括待測芯片和至少一個與待測芯片同型號的芯片；根據(jù)標(biāo)簽靈敏度、天線阻抗值和天線增益獲取多個芯片中每個芯片的芯片阻抗值和芯片靈敏度；根據(jù)多個芯片中每個芯片的芯片阻抗值和芯片靈敏度，獲取待測芯片的芯片阻抗值和芯片靈敏度。由此，能夠準(zhǔn)確高效的測試出芯片的阻抗值和芯片靈敏度，從而有利于設(shè)計出性能更加優(yōu)異的天線以及獲得靈敏度更高的標(biāo)簽。