過壓檢測電路、過流檢測電路以及保護(hù)檢測電路
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021382796.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN212622792U | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
申請公布號 | CN212622792U | 申請公布日 | 2021-02-26 |
分類號 | G01R19/165(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王釗 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫中感微電子股份有限公司 |
代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 214135江蘇省無錫市新區(qū)清源路18號太湖國際科技園傳感網(wǎng)大學(xué)科技園530大廈A1001 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供一種過壓檢測電路、過流檢測電路以及保護(hù)檢測電路,其中,過壓檢測電路包括:帶隙基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路,其用于產(chǎn)生帶隙基準(zhǔn)電壓BG,其包括運算放大器OP、第一雙極型晶體管Q1和第二雙極型晶體管Q2;分壓電路,其用于基于受檢輸入電壓產(chǎn)生第一檢測電壓;比較器Comp1,其第一輸入端接收所述帶隙基準(zhǔn)電壓BG,其第二輸入端接收所述第一檢測電壓;其中,所述第一雙極型晶體管和第二雙極型晶體管為PNP雙極型晶體管。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型中,用于實現(xiàn)電壓檢測和/或電流檢測的雙極型晶體管可以采用普通的CMOS工藝中寄生的PNP型雙極型晶體管,從而減少光刻步驟,進(jìn)而降低芯片的生產(chǎn)成本。?? |
