太赫茲瞬態(tài)熱成像檢測和層析成像系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510157222.9 申請日 -
公開（公告）號 CN104764713A 公開（公告）日 2015-07-08
申請公布號 CN104764713A 申請公布日 2015-07-08
分類號 G01N21/3586(2014.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何赟澤;楊瑞珍 申請（專利權(quán)）人 安徽太測臨峰光電科技股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 233060 安徽省蚌埠市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)財院路10號106號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了太赫茲瞬態(tài)熱成像檢測和層析成像系統(tǒng)及方法。系統(tǒng)由控制模塊、太赫茲光源、太赫茲鏡片組、熱像儀、計算機及多個算法模塊等組成。采用脈沖或連續(xù)太赫茲光束對被檢對象進行加熱，采用熱像儀記錄被檢對象表面的瞬態(tài)溫度信號。對不同時刻的熱像圖進行空間導(dǎo)數(shù)變換，檢測淺層缺陷；對瞬態(tài)溫度信號和參考信號進行差分、一階求導(dǎo)、二階求導(dǎo)和傅里葉變換等處理，提取最大值時間、峰值時間、分離時間、分離頻率、峰值頻率等作為特征值；采用特征值進行成像顯示，實現(xiàn)缺陷檢測；建立特征值與深度的定量關(guān)系，對未知缺陷的深度進行定量；利用不同時間范圍的溫度變化率，實現(xiàn)不同深度范圍的層析成像。該發(fā)明可應(yīng)用于無損檢測、醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。