一種微控制器SOC內(nèi)建IO映射測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610525950.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105929818B 公開（公告）日 2020-03-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN105929818B 申請(qǐng)公布日 2020-03-06
分類號(hào) G05B23/02 分類 控制；調(diào)節(jié);
發(fā)明人 萬上宏;葉媲舟;黎冰;涂柏生 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市博巨興微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 深圳市博巨興實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司;深圳市博巨興微電子科技有限公司
地址 518051 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道高新區(qū)社區(qū)科技南路18號(hào)深圳灣科技生態(tài)園12棟裙樓732
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種微控制器SOC內(nèi)建IO映射測(cè)試裝置，包括外部測(cè)試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識(shí)產(chǎn)權(quán)模塊IP1、知識(shí)產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測(cè)試控制模塊和IO控制模塊。本發(fā)明的有益效果是：1、本方案可以高效地對(duì)微控制器SOC內(nèi)部的集成IP進(jìn)行測(cè)試。在微控制器SOC出現(xiàn)失效的時(shí)候，也可以在測(cè)試模式下對(duì)內(nèi)部集成的IP進(jìn)行失效分析。2、本方案能夠改善微控制器SOC的測(cè)試效率，只需要增加極少的資源來實(shí)現(xiàn)內(nèi)建IO映射測(cè)試邏輯，幾乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。