一種相位隨機(jī)性檢測儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022301201.9 申請日 -
公開（公告）號 CN214224486U 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN214224486U 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01M11/02（2006.01）I;H04B10/07（2013.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳柳平;王其兵;萬相奎;范永勝 申請（專利權(quán)）人 國開啟科量子技術(shù)（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京威禾知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 沈超
地址 100097北京市海淀區(qū)昆明湖南路51號A座203
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種相位隨機(jī)性檢測儀，其包括干涉儀、光電探測模塊、數(shù)據(jù)采集模塊和數(shù)據(jù)處理模塊，其中，所述干涉儀經(jīng)配置以與待測光源連接，其中，干涉儀的兩臂光程差為待測光源發(fā)出的脈沖光信號周期的n倍，其中n為大于0的自然數(shù)；所述光電探測模塊經(jīng)配置以探測干涉光信號生成對應(yīng)的電脈沖信號；所述數(shù)據(jù)采集模塊經(jīng)配置以采集所述電脈沖信號以得到脈沖峰值幅值；所述數(shù)據(jù)處理模塊經(jīng)配置以計算每一峰值幅值在所述預(yù)定時間段內(nèi)的出現(xiàn)概率，并基于峰值幅值及其出現(xiàn)概率生成峰值幅值?概率曲線。通過本實用新型所述的檢測儀可以檢測待測光源發(fā)出的脈沖光的相位隨機(jī)性。