一種材料晶體結(jié)構(gòu)特征的自動化獲取方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010287897.6 申請日 -
公開（公告）號 CN111429980A 公開（公告）日 2020-07-17
申請公布號 CN111429980A 申請公布日 2020-07-17
分類號 G16C60/00 分類 -
發(fā)明人 楊小渝 申請（專利權(quán)）人 北京邁高材云科技有限公司
代理機構(gòu) 北京智丞瀚方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 秦全
地址 100190 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路18號財智大廈A808
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種材料晶體結(jié)構(gòu)特征的自動化獲取方法，包括：A、獲取特定材料性質(zhì)數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)集的步驟；B、從所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中最大化的提取材料特征構(gòu)建基礎(chǔ)數(shù)據(jù)特征庫的步驟；C、提取有效特征，即與目標值關(guān)聯(lián)度較高特征的步驟；D、將所述有效特征進行組合的步驟；E、將篩選出的晶體結(jié)構(gòu)特征，以及各種晶體結(jié)構(gòu)特征組合，即最合適的晶體結(jié)構(gòu)特征，作為最終用于描述特定化合物類或特定材料體系的晶體結(jié)構(gòu)特征。采用本發(fā)明的方法，無需領(lǐng)域知識，就能從給定的晶體結(jié)構(gòu)?性能訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中，高效提取最合適的晶體結(jié)構(gòu)特征，以解決構(gòu)建QSPR模型及預(yù)測晶體結(jié)構(gòu)的特定目標性質(zhì)的關(guān)鍵問題。