一種提高時間采樣精度的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810290642.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108564634A 公開（公告）日 2018-09-21
申請公布號 CN108564634A 申請公布日 2018-09-21
分類號 G06T11/00;A61B6/03 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 寧鵬;楊龍;趙玉秋;梁國棟;吳風 申請（專利權）人 東軟醫(yī)療系統(tǒng)股份有限公司
代理機構 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 沈陽東軟醫(yī)療系統(tǒng)有限公司;東軟醫(yī)療系統(tǒng)股份有限公司
地址 110179 遼寧省沈陽市渾南區(qū)創(chuàng)新路177-1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種提高時間采樣精度的方法及裝置，其中，方法應用于采集所述光子到達時間的現(xiàn)場可編程門陣列FPGA，F(xiàn)PGA包括多個邏輯陣列單元LAB，每個LAB包括多個級聯(lián)在一起的進位鏈；方法包括：在單事件對應的觸發(fā)信號到達時，將觸發(fā)信號同時進入搭建的進位鏈的不同位置，所述不同位置涵蓋LAB的跨區(qū)位置以及搭建的進位鏈的起始位置；將觸發(fā)信號在LAB的跨區(qū)位置對應的標定時間減去跨區(qū)位置的前一級進位鏈的時間作為觸發(fā)信號在跨區(qū)位置的實際標定時間TA；獲得觸發(fā)信號在起始位置對應的標定時間TB；獲得TA和TB的平均值作為校準后的標定時間，提高單事件發(fā)生時間的采樣精度，使得符合事件判定結果的準確性更高，進而提高圖像的重建質量。