一種導引頭穩(wěn)定平臺的調試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710696575.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN107608231B | 公開(公告)日 | 2018-01-19 |
申請公布號 | CN107608231B | 申請公布日 | 2018-01-19 |
分類號 | G05B17/02(2006.01)I | 分類 | 控制;調節(jié); |
發(fā)明人 | 張明月;劉慧;儲海榮;張玉蓮;高思遠;張宏巍 | 申請(專利權)人 | 中天長光(青島)裝備科技有限公司 |
代理機構 | 長春菁華專利商標代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
地址 | 130033吉林省長春市東南湖大路3888號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種導引頭穩(wěn)定平臺的調試方法,涉及伺服控制技術領域。解決現有xPC在導引頭穩(wěn)定平臺的伺服系統(tǒng)設計中僅限于驗證某種先進控制器算法或者實現硬件在環(huán)的設備測試,而沒有一套規(guī)范的調試方法等問題,該系統(tǒng)包括:宿主機、目標機和數據采集卡,調試方法包括速度極性判斷、系統(tǒng)辨識、速度環(huán)控制器設計及調試(包括擾動觀測器設計及調試、PID控制器設計及調試、前饋控制器設計及調試)、速度環(huán)控制器離散化調試、位置極性判斷、位置環(huán)控制器離散化設計及調試、基于DSP的系統(tǒng)速度環(huán)調試、基于DSP的系統(tǒng)雙閉環(huán)調試。本發(fā)明集成度高,實現快速原型、硬件在回路中的測試和與仿真,修改設計方便易于調試,縮短了設計周期。?? |
