性能分析方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210412000.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114780363A 公開（公告）日 2022-07-22
申請公布號 CN114780363A 申請公布日 2022-07-22
分類號 G06F11/34（2006.01）I;G06F9/448（2018.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 韓磊 申請（專利權(quán)）人 重慶紫光華山智安科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 400700重慶市北碚區(qū)云漢大道117號附386號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出的一種性能分析方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)，該方法通過將預(yù)設(shè)采集函數(shù)分別注入分布式存儲系統(tǒng)中多個(gè)待分析函數(shù)，通過一個(gè)或多個(gè)待檢測線程調(diào)用至少一個(gè)待分析函數(shù)，基于預(yù)設(shè)采集函數(shù)獲取各待檢測線程的運(yùn)行數(shù)據(jù)，分別根據(jù)待分析函數(shù)身份信息確定當(dāng)前函數(shù)名和上層函數(shù)名，根據(jù)各待分析函數(shù)的調(diào)用關(guān)系數(shù)據(jù)分別生成各待檢測線程的調(diào)用鏈，根據(jù)各調(diào)用鏈和各調(diào)用鏈對應(yīng)的待檢測線程的運(yùn)行數(shù)據(jù)對分布式存儲系統(tǒng)進(jìn)行性能分析，通過統(tǒng)計(jì)各調(diào)用鏈的運(yùn)行數(shù)據(jù)，并對其進(jìn)行集中分析能夠?qū)崿F(xiàn)對分布式存儲系統(tǒng)既支持單函數(shù)分析，也支持執(zhí)行流分析，對分布式存儲系統(tǒng)的性能損耗小，分析速度更快，對代碼影響更小。