疊層厚度測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420194603.5 申請日 -
公開（公告）號 CN203824527U 公開（公告）日 2014-09-10
申請公布號 CN203824527U 申請公布日 2014-09-10
分類號 G01B11/06(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 竇琴;韓歡慶;陳文智;張淑蘭;張志英;劉囡楠;張濤 申請（專利權(quán)）人 安泰非晶科技有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 北京五洲洋和知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉春成;溫泉
地址 100081 北京市海淀區(qū)學(xué)院南路76號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種疊層厚度測量裝置，應(yīng)用于冶金行業(yè)中金屬疊層的疊片系數(shù)測量設(shè)備領(lǐng)域。所述疊層厚度測量裝置包括：具有支架的測量臺，所述支架位于所述測量臺的臺面上；夾緊機構(gòu)；具有上壓面和下壓面的壓力傳感器；位于所述測量臺臺面上的第一驅(qū)動機構(gòu)，與所述夾緊機構(gòu)連接；固定于所述支架上的第二驅(qū)動機構(gòu)，與所述上壓面連接；以及固定于所述支架上的測距儀，位于所述上壓面上方，用于測量疊層式樣的疊層厚度。本實用新型通過上述技術(shù)方案提高了測量效率，降低了勞動強度，同時提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。