低幀率相機大視場振動測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510169310.0 申請日 -
公開（公告）號 CN104764520B 公開（公告）日 2018-04-20
申請公布號 CN104764520B 申請公布日 2018-04-20
分類號 G01H9/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊波;萬新軍;張薇;舒新煒;錢偉;張婧京;解樹平 申請（專利權(quán)）人 昆山上理工光電信息應(yīng)用技術(shù)研究院有限公司
代理機構(gòu) 上海德昭知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海理工大學;昆山上理工光電信息應(yīng)用技術(shù)研究院有限公司
地址 200093 上海市楊浦區(qū)軍工路516號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種在低幀率相機大視場振動測量裝置中施行的低幀率相機大視場振動測量方法，包括：將反光膜被貼覆在待測物體的表面上后，對兩個低幀率相機進行定位并調(diào)節(jié)至兩個低幀率相機的圖像采集區(qū)域都為第一行標志點，基于預(yù)定長度的方波生成部所生成的方波控制兩個低幀率相機同時在方波的上升沿或下降沿進行拍攝，基于與第一行標志點相同的方式對其他行的標志點進行拍攝，振動信息計算部根據(jù)兩個低幀率相機同時拍攝得到的拍攝圖像計算出該行標志點的空間位置坐標，進一步計算出每行標志點的部分振動信息，基于三行的三個部分振動信息計算出待測物體的振動信息。