基于太赫茲波的內(nèi)部缺陷成像方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210302242.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114689598A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114689598A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-01 |
| 分類號(hào) | G01N21/88（2006.01）I;G01N21/3581（2014.01）I;G01N21/3563（2014.01）I;G06K9/00（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 梅紅偉;劉建軍;王黎明;陳大兵;王磊 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 清華大學(xué)深圳國(guó)際研究生院 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市鼎言知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518055廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道深圳大學(xué)城清華校區(qū)A棟2樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種基于太赫茲波的內(nèi)部缺陷成像方法、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：獲取對(duì)待測(cè)產(chǎn)品的多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行太赫茲波掃描檢測(cè)而反射回的多個(gè)太赫茲反射波；提取多個(gè)太赫茲反射波的波形特征參數(shù)；將多個(gè)太赫茲反射波的波形特征參數(shù)輸入至缺陷識(shí)別模型，得到每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷檢測(cè)結(jié)果及缺陷決策值；基于每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷檢測(cè)結(jié)果生成缺陷成像圖，及基于每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷決策值生成缺陷位置決策圖。本發(fā)明利用太赫茲波來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷成像，缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確性高，且可確定內(nèi)部缺陷的嚴(yán)重程度。 |
