基于太赫茲波的內(nèi)部缺陷成像方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210302242.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114689598A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114689598A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01N21/88（2006.01）I;G01N21/3581（2014.01）I;G01N21/3563（2014.01）I;G06K9/00（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 梅紅偉;劉建軍;王黎明;陳大兵;王磊 申請（專利權(quán)）人 清華大學(xué)深圳國際研究生院
代理機(jī)構(gòu) 深圳市鼎言知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 518055廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道深圳大學(xué)城清華校區(qū)A棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于太赫茲波的內(nèi)部缺陷成像方法、電子設(shè)備及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述方法包括：獲取對待測產(chǎn)品的多個檢測點進(jìn)行太赫茲波掃描檢測而反射回的多個太赫茲反射波；提取多個太赫茲反射波的波形特征參數(shù)；將多個太赫茲反射波的波形特征參數(shù)輸入至缺陷識別模型，得到每個檢測點的缺陷檢測結(jié)果及缺陷決策值；基于每個檢測點的缺陷檢測結(jié)果生成缺陷成像圖，及基于每個檢測點的缺陷決策值生成缺陷位置決策圖。本發(fā)明利用太赫茲波來實現(xiàn)對待測產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷成像，缺陷檢測準(zhǔn)確性高，且可確定內(nèi)部缺陷的嚴(yán)重程度。