一種方英石的制備方法及含該方英石的蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品的制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810641094.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN108675308B | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108675308B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-01 |
分類號(hào) | C01B33/12(2006.01)I;C03B20/00(2006.01)I | 分類 | 無機(jī)化學(xué); |
發(fā)明人 | 陳文波;鄭海輝;李忠良;樂盛;呂光烈 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江仟源海力生制藥有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京中政聯(lián)科專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 尹瑋 |
地址 | 316000浙江省舟山市舟山經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)新港園區(qū)新港十一道66號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種方英石的制備方法及含該方英石的蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品的制備方法,采用無晶態(tài)二氧化硅粉末作為原料制備α?石英,制備過程簡(jiǎn)單,煅燒時(shí)間短,制得的方英石光學(xué)純度高,轉(zhuǎn)化率高,通過用于蒙脫石方英石制備蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品,用與蒙脫石雜質(zhì)檢測(cè)的自身對(duì)照,使得X射線衍射法掃描角度變?。?5?35°),減少了儀器所需能量,且使方英石含量圖譜分析變得簡(jiǎn)單明了。 |
