一種方英石的制備方法及含該方英石的蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品的制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810641094.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN108675308A | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-10-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108675308A | 申請(qǐng)公布日 | 2018-10-19 |
分類號(hào) | C01B33/12;C03B20/00 | 分類 | 無(wú)機(jī)化學(xué); |
發(fā)明人 | 陳文波;鄭海輝;李忠良;樂(lè)盛;呂光烈 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江仟源海力生制藥有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 舟山固浚專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 楊康星 |
地址 | 316000 浙江省舟山市臨城新區(qū)海力生路88號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種方英石的制備方法及含該方英石的蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品的制備方法,采用無(wú)晶態(tài)二氧化硅粉末作為原料制備α?石英,制備過(guò)程簡(jiǎn)單,煅燒時(shí)間短,制得的方英石光學(xué)純度高,轉(zhuǎn)化率高,通過(guò)用于蒙脫石方英石制備蒙脫石標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照品,用與蒙脫石雜質(zhì)檢測(cè)的自身對(duì)照,使得X射線衍射法掃描角度變?。?5?35°),減少了儀器所需能量,且使方英石含量圖譜分析變得簡(jiǎn)單明了。 |
